雷达可测试性设计指标及技术研究

摘要：

本文系统地研究了雷达系统和设备的测试性对系统可靠性、维修性和可用度的影响，分析了系统可测试指标的设计方法，并结合相控阵雷达系统提出了一般系统的可测试性设计方法和技术。

关键词： 相控阵雷达 可靠性 可测试设计

作者: 于文震

作者单位: 中国电子科技集团公司第十四所

会议类型: 国内会议

会议名称: 2007年国防科技工业试验与测试技术高层论坛

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 141-145

在线出版日期: 2007-09-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）