PMOS剂量计的稳定性研究

摘要：

在室温条件下，研究了辐照偏置、总剂量和剂量率对PMOS剂量计辐照剂量记录－阈值的稳定性影响，观察了辐照后阈值在不同栅偏下的变化趋势和幅度。分析认为慢界面陷阱中电荷的“充放电”是造成不稳定的首要原因。结果表明，该种由慢界面态造成的阈值变化在每次开机测量下具有重复性。讨论了在PMSO剂量计中提高稳定性的办法。

关键词： PMOS剂量计 阈值 稳定性

作者: 范隆 严荣良 张国强 任迪远

作者单位: 中国科学院新疆物理研究所(乌鲁木齐)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第六届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术交流会

会议地点: 江苏扬州

会议语种:中文

页码: 397～402

在线出版日期: 1999-05-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）