基于低温辐射计红外探测器光谱响应度测试技术的研究
光谱响应度是探测器的重要技术参数之一，随着红外探测技术的发展，对红外探测器的要求越来越高，因此精确测量红外探测器的光谱响应度是非常必要的。该文主要对红外探测器光谱响应度的测试技术进行了研究。以低温辐射计为基准，以硅陷阱探测器为传递标准，用硅探测器在900nm处对红外探测器的绝对光谱响应度进行量值传递，然后在红外光谱响应度测量装置上，用腔体热释电探测器作为参考探测器，对InGaAs探测器、InSb探测器和HgCdTe探测器及热释电探测器相对光谱响应度进行了标定，从而实现红外探测器(1～20)μm绝对光谱响应度的标定。该技术不仅提高了红外探测器绝对光谱响应度的测量精度，而且开辟了一条以标准探测器为基础开展红外辐射量值传递的新途径。
低温辐射计 硅陷阱探测器 红外探测器 腔体热释电探测器 光谱响应度
杨照金 范纪红 王雷
西安应用光学研究所,710065
国内会议
桂林
中文
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2009-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）