光无源器件回波损耗测试方法研究

摘要：

介绍了一种新型光回波损耗测试方法，以光环形器作为核心器件代替常用的光耦合器，同时结合剪断法进行光器件回波损耗的精确测量。有效避免了采用光耦合器所引入的光信号于耦合器内双向传输因干涉产生的测量误差。

关键词： 光学计量学 剪断法 光环形器 光回波损耗测试 光耦合器

作者: 李健 张志新 姚和军 王慧敏 徐楠 李建威

作者单位: 中国计量科学研究院,北京 100013

会议类型: 国内会议

会议名称: 2009年中国计量测试学会光辐射计量学术研讨会

会议地点: 桂林

会议语种:中文

页码: 390-392

在线出版日期: 2009-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）