光无源器件偏振相关损耗测试方法研究

摘要：

介绍了目前种广泛使用的测试无源光器件偏振相关损耗(PDL)的方法：偏振态扫描法和目勒(Mueller)矩阵法，并通过试验对这两种方法进行了比较。试验结果显示偏振扫描法能够更有效、准确的进行PDL的测试，但其对设备及环境等要求较高;目勒矩阵法扫描速度快，适合多波长测量及生产线应用。

关键词： 计量学 光无源器件 偏振相关损耗 偏振态扫描法 目勒矩阵法 PDL测试

作者: 李健 张志新 李建威 徐楠 姚和军 熊利民 王慧敏

作者单位: 中国计量科学研究院,北京 100013

会议类型: 国内会议

会议名称: 2009年中国计量测试学会光辐射计量学术研讨会

会议地点: 桂林

会议语种:中文

页码: 398-400

在线出版日期: 2009-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）