曝光量国家计量基准技术的改造
曝光量作为光能的时间累积量在感光度计量、图象处理和成像分析中有着重要的应用。随着数字成像技术的发展,由CCD、CMOS阵列型光电器件构成的数字成像系统越来越多的提出曝光量校准的需求。针对上述需求中国计量科学研究院光学与激光计量研究所对原有国家曝光量基准装置进行了技术改造,在维持原有不确定度的同时,增加了校准阵列型光电器件曝光量的能力。
计量学 曝光量 阵列感光器件 照度法 感光度计量
王煜 吴厚平 李平 郑春弟 李大欣 张巧香 冯国进 刘子龙
中国计量科学研究院光学与激光计量研究所,北京 100013
国内会议
桂林
中文
410-413
2009-10-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)