陷阱探测器面响应均匀性的测量
面响应均匀性是反映光探测器质量的重要参数。陷阱探测器承担着低温辐射计系统的量值保存和量值传递。文中对3个陷阱探测器的面响应均匀性进行了测量,测量结果的重复性达到0.005”%”。测量结果表明,采用S1337陷阱探测器适合作为低温辐射计系统的量值传递和保存的工具。
陷阱探测器 面响应均匀性 低温辐射计 量值传递
吕亮 林延东
北京理工大学,北京 100081 中国计量科学研究院光学所,北京 100013 中国计量科学研究院光学所,北京 100013
国内会议
桂林
中文
439-442
2009-10-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)