陷阱探测器面响应均匀性的测量

摘要：

面响应均匀性是反映光探测器质量的重要参数。陷阱探测器承担着低温辐射计系统的量值保存和量值传递。文中对3个陷阱探测器的面响应均匀性进行了测量，测量结果的重复性达到0.005”％”。测量结果表明，采用S1337陷阱探测器适合作为低温辐射计系统的量值传递和保存的工具。

关键词： 陷阱探测器 面响应均匀性 低温辐射计 量值传递

作者: 吕亮 林延东

作者单位: 北京理工大学,北京 100081 中国计量科学研究院光学所,北京 100013 中国计量科学研究院光学所,北京 100013

会议类型: 国内会议

会议名称: 2009年中国计量测试学会光辐射计量学术研讨会

会议地点: 桂林

会议语种:中文

页码: 439-442

在线出版日期: 2009-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）