一种针对SoC的自保持模拟IP核测试外壳设计
为了实现混合信号片上系统(SoC)中快速、低成本的模拟IP核测试访问，本文提出了一种自保持模拟IP核测试外壳(wrapper)设计。本设计复用片上数模转换器(DAC)和模数转换器(ADC)，提出具有自保持功能的模拟IP核测试接口设计，测试控制器配置测试外壳功能模式和测试接口保持功能选择，实现测试激励和测试响应的数字化，并可以通过配置满足不同频率测试激励要求。实验结果表明，模拟测试接口设计可以实现测试激励的高精度自保持，并通过不同的电路配置，实现高速测试激励施加。本文提出的模拟IP核自保持测试外壳设计在不需要外加DAC和ADC的情况下，实现了多输入输出模拟IP核测试激励并行施加和测试响应分析的数字化，降低了数模混合SoC中模拟IP核测试成本。
数模混合SoC 模拟IP核 自保持模拟测试接口 测试外壳 多输入输出
靳洋 王红 杨士元 牛道恒 胡梅
清华大学 自动化系，北京 100084
国内会议
海拉尔
中文
130-134
2009-07-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）