单粒子效应对VLSI器件的影响及防护

摘要：

在分析微电子器件单粒子效应物理机理的基础上，重点介绍了DRAM、SRAM、SRAM型FPGA、反熔丝型FPGA和DSP等超大规模集成电路器件中的单粒子效应，接着介绍了近些年国内外超大规模集成电路器件单粒子效应防护技术方面的研究进展，最后对超大规模集成电路器件单粒子效应研究进行了预测与展望。

关键词： 单粒子效应 超大规模集成电路 电荷收集 抗辐射加固 软错误 容错技术 FPGA 辐射防护

作者: 贺兴华 陆静芳 肖山竹 卢焕章

作者单位: 国防科学技术大学ATR国防重点实验室．湖南 长沙 410073 中国人民解放军61516部队，北京 100094

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十三届全国容错计算学术会议

会议地点: 海拉尔

会议语种:中文

页码: 142-147

在线出版日期: 2009-07-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）