基于多信号依赖关系的测试性建模技术研究

摘要：

为及时检测、定位系统故障，保证系统在全寿命周期内的可测试性，必须建立一种易于理解和可行的测试性模型。系统组成及其之间的依赖关系是测试性建模的关键。本文以CPCI计算机为例，针对目标系统的结构特点，采用多信号依赖模型建模方法建立其可测试性模型，并对该模型的故障检测率、故障隔离率等测试性指标进行了评价，结果表明可有效指导系统的可测试性设计。

关键词： 可测试性设计 全寿命周期 多信号依赖模型 测试性建模 故障检测率

作者: 代征 蒲昱初 欧中红 袁由光

作者单位: 武汉数字工程研究所，武汉 430074

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十三届全国容错计算学术会议

会议地点: 海拉尔

会议语种:中文

页码: 162-165

在线出版日期: 2009-07-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）