一种基于TSP问题的扫描链阻塞技术低费用测试方法

摘要：

在扫描链阻塞技术中，在扫描测试的任意时刻仅有一个子扫描链活跃，电路的平均功耗，总功耗和峰值功耗都显著降低。但对有些电路，此方法的测试应用时间增加。经过初步研究，我们发现如果充分利用测试向量之间的相容性能显著的降低测试应用时间，求最小的测试应用时间问题等价于TSP问题．实验结果表明，我们的方法能有效地降低测试应用时间。

关键词： 可测试设计 全扫描测试 低功耗测试 扫描链阻塞 TSP问题

作者: 江招生 尤志强 张大方 邝继顺

作者单位: 湖南大学软件学院，长沙 410082 湖南大学计算机与通信学院，长沙 410082

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十三届全国容错计算学术会议

会议地点: 海拉尔

会议语种:中文

页码: 176-179

在线出版日期: 2009-07-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）