基于伪对称编码的测试数据压缩方法

摘要：

为了减少SoC芯片的测试数据，本文提出了一种基于伪对称编码的测试数据压缩方法。该方法根据0和1的分布特点，在0游程和1游程的基础上提出对称性游程，采用变长到变长的编码方式对不同类型游程编码，代码字由控制位，前缀和尾部组成。伪对称编码在将每组的容量扩大一倍的同时，扩大编码范围，能有效的压缩芯片测试数据量。理论分析和实验结果表明伪对称编码能取得很好的压缩效果，且能适应多样编码对象，解压结构简单且易实现。

关键词： 测试数据 压缩方法 变长编码 伪对称编码 SoC芯片

作者: 罗强 梁华国 詹文法 李扬

作者单位: 合肥工业大学计算机与信息学院，安徽 合肥 230009 合肥工业大学计算机与信息学院，安徽 合肥 230009 安庆师范学院教育技术系，安徽 安庆 246011

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十三届全国容错计算学术会议

会议地点: 海拉尔

会议语种:中文

页码: 342-348

在线出版日期: 2009-07-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）