针对小时延缺陷的时延测试方法综述

摘要：

本文综述了近年来针对小时延缺陷的测试的主要研究成果，在深入分析小时延缺陷给时延测试带来的挑战的同时，主要介绍了三类针对小时廷缺陷的时延测试方法：超速测试在测试应用时提高测试时钟频率，已知定时ATPG把时延信息引入测试生成，以及基于测试质量评估的向量筛选。从测试质量的提高和计算复杂度等方面分析了三类方法的优劣，并对纳米工艺下工艺变异带来的挑战进行了探讨。

关键词： 小时延缺陷 时延测试 已知定时ATPG 超速测试 向量筛选 测试质量

作者: 王杰 李华伟 梁华国

作者单位: 合肥工业大学计算机与信息学院，合肥 230009 中国科学院计算机系统结构重点实验室，中国科学院计算技术研究所，北京 100190 中国科学院计算机系统结构重点实验室，中国科学院计算技术研究所，北京 100190 合肥工业大学计算机与信息学院，合肥 230009

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十三届全国容错计算学术会议

会议地点: 海拉尔

会议语种:中文

页码: 383-390

在线出版日期: 2009-07-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）