一种基于DAC复用的∑-△ADC调制器DFT方法

摘要：

为了提高∑-△ADC调制器的可测试性和减小总的测试价格，本文提出了一种全数字的开关电容∑-△调制器可测性设计(DFT)方法。在测试模武下，通过复用被测∑-△调制器自身包含的一位反馈DAC，将其重新配置为三个输出级Vref+、Gnd和Vref-，由量化器数字输出与施加的数字激励之差决定该反馈DAC的输出，并通过数字激励及量化器数字输出测量被测∑-△调制器的性能。实验结果表明采用这种方法有效地测量ADC调制器的动态参数，包括信噪比(SNR)，动态范围(DR)等。

关键词： ADC转换器 可测试性 混合信号测试 ∑-△调制器

作者: 冯建华 任建国 叶红飞

作者单位: 北京大学 微电子学系，微电子器件与电路教育部重点实验室，北京 100871

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十三届全国容错计算学术会议

会议地点: 海拉尔

会议语种:中文

页码: 511-516

在线出版日期: 2009-07-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）