嵌入式存储器诊断电路的失效位图压缩方法

摘要：

随着嵌入式存储器广泛应用于集成电路设计中，对其进行故障诊断与失效分析是提高芯片成品率的一种必要手段。由于嵌入式存储器自身可控制和可观测性较差，通常需要在片内设计诊断电路来保存失效信息以满足故障诊断和失效分析需求。在高失效密度下，研究面积开销小、数据传输量少的故障诊断电路具有重要意义。本文提出了一种将失效向量进行失效位扩展并编码后存储为失效位图的电路结构。在此基础上，针对传输数据量过多导致测试时间过长问题，本文提出将压缩后的失效位图对失效地址位和测试状态、测试数据和失效向量分别压缩的方法，减少传输数据量。

关键词： 嵌入式存储器 故障诊断 失效位图 编码方法 压缩方法

作者: 王达 胡瑜 李华伟 李晓维

作者单位: 中国科学院计算机系统结构重点实验室，中国科学院计算技术研究所，北京 100190 中国科学院研究生院，北京 100039 中国科学院计算机系统结构重点实验室，中国科学院计算技术研究所，北京 100190

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十三届全国容错计算学术会议

会议地点: 海拉尔

会议语种:中文

页码: 522-528

在线出版日期: 2009-07-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）