电离层垂直探测QPS层参数反演遗传算法研究
本文假设电离层电子密度分布为准抛物段(QPS)模型,利用遗传算法(GA)进行了合成垂直探测电离图电离层电子密度参数反演,反演结果较为理想,反演方法具有一定的稳定性。同时利用实测垂直探测电离图检验了该反演方法的精度与稳定性,并与ARTIST软件结果进行了比较,展示出了该反演方法良好的应用前景。
空间物理 电离层结构 电子密度 参数反演 遗传算法
徐彤 吴健 吴振森 冯健
中国电波传播研究所,青岛 266107 西安电子科技大学理学院,西安 710071 中国电波传播研究所,青岛 266107 西安电子科技大学理学院,西安 710071
国内会议
武汉
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7-11
2009-11-06(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)