功率VDMOS器件可靠性及应用失效分析

摘要：

功率VDMOS属于分立器件，以其高开关速度、低损耗等特点而应用广泛。由于功率VDMOS的工作条件恶劣，在高温大电压的应用环境下失效概率较大。本文总结和简述了VDMOS在可靠性考核和实际应用中的一些典型失效分析过程和方法，以及目前针对功率VDMOS失效一些常用的分析手段也作了初步介绍和讨论。

关键词： 垂直扩散金属氧化物半导体 失效分析 可靠性考核

作者: 胡振邦

作者单位: 华润上华科技有限公司

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电器工业协会电力电子分会成立20周年庆典大会暨高峰论坛

会议地点: 西安

会议语种:中文

页码: 200-203

在线出版日期: 2009-10-11（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）