简析混合电路试验程序与可靠性

摘要：

本文从产品失效模式入手,分析了混合集成电路试验程序与产品可靠性之间的联系,对混合集成电路的筛选程序中若干项从筛选度角度进行了理论探讨,文章指出产品的可靠性是一个综合性问题.

关键词： 混合集成电路 可靠性试验 失效模式 筛选度

作者: 安军雷 姜贵云

作者单位: 北京飞宇微电子有限责任公司,北京 100027

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十六届全国混合集成电路学术会议

会议地点: 成都

会议语种:中文

页码: 260-263

在线出版日期: 2009-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）