混合微电路生产过程中的样本量极少工序质量控制方法的研究

摘要：

本文对批量不足以进行统计控制的样本量极少的工序,提出了用标准值验证图对标准值给定的工序进行质量控制.并对该方法的工作原理、应用特点等进行了论述.

关键词： 混合微电路 样本量极少工序 质量控制 标准值验证图

作者: 胡晓红

作者单位: 北京机械工业自动化研究所,北京 100011

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十六届全国混合集成电路学术会议

会议地点: 成都

会议语种:中文

页码: 264-270

在线出版日期: 2009-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）