基于光子计数测量的X射线荧光效率标定系统

摘要：

荧光效率是X射线滤波荧光法测量实验中的重要参数.本文介绍了一套自行研制的X射线荧光效率标定系统,该系统引入X光机二次激发的特征X射线作为单色光源,设计了专用的标定靶室,采用具有高能量分辨的高纯锗探测器和多道仪作为光子计数的记录系统.最后,利用该系统给出了Cu片对两种不同能量X射线的荧光效率,并与理论值进行了比较.

关键词： X射线 荧光效率 光子计数测量 标定靶室 高纯锗探测器

作者: 罗剑辉 黑东炜 孙凤荣

作者单位: 西北核技术研究所,陕西西安,710024

会议类型: 国内会议

会议名称: 第七届全国核仪器及其应用学术会议暨全国第五届核反应堆用核仪器学术会议

会议地点: 西宁

会议语种:中文

页码: 61-65

在线出版日期: 2009-07-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）