会议专题

一种用于2π多丝正比计数器的放大电路设计及性能测试

本文介绍的放大电路用于测量平面放射源表面发射率的2π多丝正比计数器.通过使用两种类型的放射源对该探测器和电路进行了测试.结果满足相关标准要求.

电荷灵敏 放大电路 平面放射源表 表面发射率 2π多丝正比计数器 核探测器

王志刚 邓长明 张世让

中国辐射防护研究院,山西太原,030006

国内会议

第七届全国核仪器及其应用学术会议暨全国第五届核反应堆用核仪器学术会议

西宁

中文

152-154

2009-07-20(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)