用于同步辐射XAFS的多元HPGe固体探测器数据采集系统研究
本文主要介绍了北京同步辐射装置(BSRF)1W1B X射线吸收精细结构(XAFS)实验站利用美国CANBERRA公司19元高纯锗(HPGe)型固体探测器(SSD)和美国XIA公司数字X射线处理系统(DXP)建立起的荧光XAFS实验数据采集系统的设计与实现.荧光法是XAFS谱分析常用方法之一，常用于低浓度样品测试，所以要求测试系统具有良好的信噪比。 本文采用19元HPGe型SSD，配合DXP系统，建立起荧光XAFS实验系统，并分别以浓度为20-30ppm的Co元素样品和小鼠脑海马区Fe元素为测试对象，以目前普遍采用的Lytle型荧光电离室为对比仪器，进行了对比性测试。实验结果表明，本系统在痕量元素测试方面，或荧光信号信噪比极差的场合，测试效果优于常用仪器Lytle.
同步辐射 固体探测器 数据采集系统 精细结构 信噪比 痕量元素测试
周爱玉 谢亚宁 孙银宝
中国科学院高能物理研究所,北京 100049 中国科学院高能物理研究所,北京 100049 中国科学院研究生院,北京 100049
国内会议
内蒙古海拉尔
中文
101-105
2009-07-05（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）