典型数字信号处理系统总剂量效应评估

摘要：

本文介绍了利用钴60γ射线源对典型数字信号处理系统进行总剂量辐射试验的试验情况,结果表明不同工作状态下系统的抗辐射能力是不同的，器件级抗辐射能力评估所获得的数据并不能直接作为系统的抗辐射能力数据。

关键词： 总剂量效应 数字信号处理系统 钴60γ射线源 抗辐射能力

作者: 张磊 唐民 于庆奎 朱恒静 张海明

作者单位: 中国空间技术研究院电子元器件可靠性中心 北京 100029

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术年会

会议地点: 沈阳

会议语种:中文

页码: 69-77

在线出版日期: 2009-07-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）