宇航用电子元器件单粒子辐照技术

摘要：

抗单粒子辐照指标是宇航电子元器件重要考核项目之一，本文结合中科院微电子所多年工程经验论述了宇航飞行器广泛使用的电子元器件的各种单粒子效应。对SRAM、FPGA、MCU、VDMOS等典型元器件做了针对性分析。

关键词： 单粒子效应 静态随机存取存储器 现场可编程门阵列 功率器件 金属氧化物半导体器件 宇航电子元器件

作者: 刘刚 赵发展 韩郑生

作者单位: 中国科学院微电子研究所 北京100029

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术年会

会议地点: 沈阳

会议语种:中文

页码: 214-216

在线出版日期: 2009-07-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）