电子系统抗SGEMP效应能力评估方法研究

摘要：

本文从某器件损伤阈值的电流注入实验数据和电子系统中该器件端口响应的计算数据出发，对器件在SGEMP环境中生存能力的评估方法进行了研究。该评估方法可以计算给定环境下器件的生存概率，也可以计算出生存概率所对应的置信度。 按照文中评估思路。给出了电子系统中某器件的生存概率及其置信度的例子。该评估方法也适用于其它辐射环境下系统生存能力的评估.

关键词： 安全裕度 生存概率 置信度 电子系统 辐射环境

作者: 程引会 李进玺 李宝忠 吴伟 马良 周辉

作者单位: 西北核技术研究所 陕西 西安710024

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术年会

会议地点: 沈阳

会议语种:中文

页码: 305-309

在线出版日期: 2009-07-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）