抗辐射加固IC电路相位噪声测试研究

摘要：

介绍了直接频谱仪法、相位检波器法、鉴频器法等相位噪声测试方法，并利用这些测试方法，通过合理的测试设计，开发出了抗辐射加固IC电路的测试系统，对电路进行了相位噪声测试研究。

关键词： 抗辐射加固 相位噪声 相位检波器 鉴频器 直接频谱仪法 测试系统 IC电路

作者: 蒲璞

作者单位: 中国电子科技集团第二十四研究所 重庆400060

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术年会

会议地点: 沈阳

会议语种:中文

页码: 254-259

在线出版日期: 2009-07-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）