基于SRAM的XILINX FPGA单粒子翻转的测试和试验方法研究

摘要：

基于SRAM的XILINX FPGA的资源丰富、结构复杂，在对其进行的单粒子试验中，只有针对其特点，设计相应的单粒子试验的测试程序才能系统、准确地获取该类芯片的单粒子特性，为抗辐加固设计提供依据，为该类芯片在航天领域的使用打下基础.

关键词： 静态随机存取存储器 单粒子翻转 抗辐加固设计

作者: 田文波 章斌

作者单位: 上海航天电子技术研究所，上海

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术年会

会议地点: 沈阳

会议语种:中文

页码: 374-379

在线出版日期: 2009-07-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）