静态随机存储器抗总剂量辐射性能筛选在线测试系统

摘要：

研制了一套SRAM总剂量辐射效应在线测试系统，该系统可同时对多个SRAM器件进行总剂量辐照效应在线测试，获得在γ辐照环境中静态功耗电流和出错数随总剂量的变化关系。进行了实际的SRAM器件辐照试验，测量得到了不同批次参数辐射响应的差异，并分析SRAM静态功耗电流和出错数受γ辐照的损伤机理.

关键词： 静态随机存取存储器 测试系统 损伤机理 抗总剂量辐射

作者: 于跃 郭旗 任迪远 李鹏伟

作者单位: 中国科学院研究生院 北京100083 中科院新疆理化所 新疆 乌鲁木齐830011 中科院新疆理化所 新疆 乌鲁木齐830011

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术年会

会议地点: 沈阳

会议语种:中文

页码: 380-385

在线出版日期: 2009-07-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）