荧光法测量复合屏蔽材料X射线透过率

摘要：

用7种纯材料做荧光靶，在荧光X射线装置上对复合屏蔽材料平板样品进行了X射线透过率实验测量，获得了100keV以下16个单能点的X射线透过率测量数据.根据材料对X射线的吸收规律，理论外推了100keV～200keV的X射线透过率.

关键词： 荧光法 复合屏蔽材料 X射线透过率 平板样品

作者: 詹峻岭 徐曦 黑东炜 罗剑辉

作者单位: 中国工程物理研究院电子工程研究所 四川 绵阳621900 西北核技术研究所 陕西 西安710024

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术年会

会议地点: 沈阳

会议语种:中文

页码: 519-526

在线出版日期: 2009-07-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）