基于X光透镜的X射线荧光探针及其应用研究

摘要：

毛细管X光透镜利用全反射的原理将从X射线源发出的X射线束聚成直径为微米量级的X射线束，并相应的提高了激发样品的X射线束的强度，降低元素的探测极限和提高元素分析的灵敏度。本文介绍本实验室最近几年来基于毛细管X射线荧光探针的分析技术应用于环境、地学和考古学以及标准参考物质检测中的应用研究。

关键词： X光透镜 X射线荧光探针 化学分析 环境监测 地质勘探 元素含量 探测极限

作者: 程琳 潘秋丽 刘治国

作者单位: 射线束技术与材料改性教育部重点实验室,北京师范大学低能核物理研究所,北京市辐射中心,北京,100875

会议类型: 国内会议

会议名称: 第六届全国地质与地球化学分析学术报告会

会议地点: 云南丽江

会议语种:中文

页码: 54

在线出版日期: 2009-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）