基于ILP寄存器分配算法的高层BIST综合

摘要：

本文提出了一种新的寄存器分配算法，该算法基于ILP原理，在测试功耗约束条件下进行建模，对设计空间进行全局寻优，得到电路RTL结构的同时也得到符合约束条件的BIST设计。在基准电路上的实验结果表明：与其它BIST测试综合方法相比较，采用本论文所提方法进行测试综合对测试资源占用最多可降低50.7％。

关键词： 寄存器 分配算法 全局寻优 内建自我测试

作者: 胡晨 蔡志匡

作者单位: 东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心,江苏南京 210096

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十六届全国半导体集成电路硅材料学术会议

会议地点: 杭州

会议语种:中文

页码: 1-5

在线出版日期: 2009-10-27（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）