基于阵元互耦的相控阵天线结构变形影响分析

摘要：

分析相控阵天线结构变形对电性能的影响，对高性能天线的研制具有重要的意义。基于阵面辐射单元互耦的分析，建立了相控阵天线结构—电磁耦合模型，给出了辐射单元位置误差对相控阵天线电性能的影响分析方法。仿真结结果与全波计算的一致，证明了该方法的有效性和正确性。

关键词： 相控阵天线 电性能 结构变形 电磁耦合模型

作者: 王从思 平丽浩 王猛 徐慧娟

作者单位: 南京电子技术研究所,南京210039 西安电子科技大学机电工程学院,西安 710071 南京电子技术研究所,南京210039 西安电子科技大学机电工程学院,西安710071

会议类型: 国内会议

会议名称: 2009年全国天线年会

会议地点: 成都

会议语种:中文

页码: 762-765

在线出版日期: 2009-10-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）