基于主动Lamb波法的薄板检测的实验研究
采用压电陶瓷片在1mm铝板上主动激励和接收Lamb波,并在板上吸附强磁铁模拟缺陷,在激励和接收传感器的连线位置上移动磁铁,研究不同位置的缺陷对S0模态直达波传播的影响。实验结果表明,缺陷的出现使S0模态直达波频谱峰值下降;并且两压电片连线之间的缺陷比延长线上的缺陷对S0模态直达波频谱峰值影响更大;不同位置的缺陷对S0模态直达波频谱峰值影响也不尽相同。
主动Lamb波法 S0模态直达波 薄板缺陷检测 一发一收法 压电陶瓷片 频谱峰值
刘增华 王娜 何存富 于波 吴斌
北京工业大学 机电学院,北京 100124
国内会议
郑州
中文
1-5
2009-08-24(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)