微束PIXE元素分布分析中的质量吸收矫正

摘要：

介绍了扫描质子微探针进行二维元素分布分析过程中的样品自吸收矫正方法。在微束PIXE分析的同时进行扫描透射离子显微成像探测获取样品的质量分布，通过我们建立的专用吸收矫正程序，对由于激发质子能量随入射深度的变化以及出射X射线被样品自吸收造成的衰减因素进行了矫正。为验证该方法的有效性，对电场燃煤炉排放的球型颗粒进行了分析测试，由于探测器位置和样品质量分布因素造成的Ca元素分布偏差得到了矫正。

关键词： 扫描透射离子显微术 扫描质子微探针 元素分析 吸收矫正 显微成像探测 球型颗粒

作者: 刘江峰 包良满 李晓林 张桂林 李燕

作者单位: 信阳师范学院 信阳 464000 中科院上海应用物理研究所 上海 201800

会议类型: 国内会议

会议名称: 第二届全国核技术及应用研究学术研讨会

会议地点: 绵阳

会议语种:中文

页码: 1-4

在线出版日期: 2009-05-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）