影响快中子照相系统DQE的因素及分析
通过分析快中子照相中发生的一系列随机过程，推导出系统探测量子效率（Detective Quantum Efficiency，DQE）与系统各参数的关系表达式。针对主要参数透镜耦合效率，分别用解析法和Monte Carlo方法，从闪烁体平板和闪烁光纤阵列的光传输特性出发，建立了更为完善的辐射转换屏与可见光记录系统之间的耦合效率计算公式。按公式计算的耦合效率与Monte Carlo方法模拟的结果一致。在此基础上进一步分析了基于闪烁光纤阵列和高性能科学级CCD的快中子照相系统的灵敏度。
快中子照相 探测量子效率 闪烁光纤阵列 耦合效率
章法强 杨建伦
中国工程物理研究院 核物理与化学研究所,四川 绵阳,621900
国内会议
绵阳
中文
1-10
2009-05-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）