Eu2O3掺杂CaCu3Ti4O12陶瓷的压敏性能及正电子湮灭研究
以稀土氧化物Eu2O3为添加剂，采用固相反应法制备了不同掺杂比例(质量比：x=0，0.2%，0.5%，1%)的CCTO陶瓷样品，并对样品的微观结构、压敏性能进行了测试分析，结果显示：少量的Eu2O3掺杂能有效阻碍富Cu相的生成，减少样晶晶粒内部的空Cu2+空位浓度。这有利于提高样品压敏性能。利用正电子湮灭技术对样品的缺陷作了检测，结果表明：少量的Eu2O3掺杂能降低样品内部的缺陷浓度，提高晶粒的半导化程度。根据掺杂后样品内部微观结构及缺陷浓度变化情况解释了材料压敏的行为。当Eu2O3掺杂量x=0.5、wt%时，样品的压敏性能性能都得剑了最佳改善。这一研究结果对于CCTO陶瓷材料的开发和应用具有十分重要的意义。
CCTO陶瓷 压敏性能 正电子湮灭 微观结构 缺陷检测 稀土掺杂
李涛 陈镇平 苏玉玲 薛运才 张金仓
郑州轻工业学院技术物理系 郑州 450002
国内会议
南宁
中文
50-55
2009-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）