Fe掺杂对CuAlO2微结构和热电性能的影响
(0) 测量了Fe掺杂对CuAl1-xFexO2(0≤x≤0.20)的符合正电子湮没辐射多勒展宽谱和寿命谱。获得样品中3d电子和缺陷的信息。结果表明，1)Fe掺杂增强CuAl1xFexO2(0≤x≤0.2)正电子潭没辐射Doppler展宽谱的3d信号，降低第一类缺陷捕获态正电子寿命τ1值；2)随着x值的增加，样品内部的第二类缺陷密度增加，从而减弱正电子湮没辐射Doppler展宽谱的3d信号，增加平均寿命值Υm；3)Fe掺杂是通过改变3d电子密度和第二类缺陷密度综合作用影响CuAl1-xFexO2的热电性能。且当x=0.10时，性能最优。
CuAlO2半导体 3d电子 微观结构 缺陷检测 正电子湮没 铁掺杂 热电性能
陈松 唐宇 王选理 韩艳玲 黄宇阳 邓文
广西大学物理科学与工程技术学院,南宁,530004
国内会议
南宁
中文
56-61
2009-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）