La2O3掺杂对ZnNb2O6微波介质陶瓷微观缺陷和介电常数的影响
通过测量不同La2O3含量的ZnLa2xNb2(1-x)O(6-2x)微波介质陶瓷的介电常数、符合正电子湮没辐射多普勒展宽谱和寿命谱，获取了该陶瓷的介电常数和微观缺陷的信息。结果表明：当La2O3含量较低(x<0.20)时，随着La2O3含量的增加，样品的止电子平均寿命τm。和缺陷浓度减小，样品的致密度、商谱谱峰和相对介电常数εr，升高。当x=0.20时，陶瓷样品的止电子平均寿命τm和缺陷浓度的最小，样品的致密度、商谱谱峰和相对介电常数εr最高。当x>0.20时，样品的正电子平均寿命τm和缺陷浓度升高，样品的致密度、商谱谱峰和相对介电常数εr降低。
氧化镧掺杂 ZnNb2O6微波 介电陶瓷 介电常数 微观结构 缺陷检测
唐宇 陈松 韩艳玲 王选理 黄宇阳 邓文
广西大学物理科学与工程技术学院,广西 南宁 530004
国内会议
南宁
中文
86-92
2009-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）