基于遗传算法的正电子湮没寿命谱拟合

摘要：

正电子湮没寿命谱方法是研究材料微观缺陷结构的重要实验手段，本文基于MATLAB对正电子寿命谱进行遗传算法(GA)拟合，得到正电子各组分寿命及其相对强度。

关键词： 正电子湮没寿命谱 GA拟合 遗传算法 材料微观结构 缺陷监测

作者: 马敏阳 秦秀波 姜小盼 王宝义 吴伟明

作者单位: 中国科学院高能物理研究所核分析技术重点实验室,北京 100049 广西大学物理科学与工程技术学院,南宁530004 中国科学院高能物理研究所核分析技术重点实验室,北京 100049 广西大学物理科学与工程技术学院,南宁 530004

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十届全国正电子湮没谱学会议

会议地点: 南宁

会议语种:中文

页码: 133-136

在线出版日期: 2009-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）