Windows界面下的正电子寿命分析程序
正电子湮没技术因其对材料电子密度的高度敏感性而成为一种研究电子结构和缺陷性质的有力手段。通常，实验测得的正电子寿命谱可以近似的表示为有限个指数函数衰减项与仪器分辨函数的卷积和常数本底之和，经过最小二乘法拟合后可以得到各寿命分量的寿命值及其相应的强度大小。国际上通用的正电子寿命谱拟合程序PATFIT可以以多种灵活的方式完成以上的拟合任务，但PATFlT程序界面不够友好，使用起来不方便。本文介绍了利用vc++编写成的Windows界面正电子寿命解谱程序PLSA，该软件在保留了原PATFIT精度高、功能强的基础上进行了一些改进，重点加强了实验信息记录、读实验谱功能、参数调节功能、多个谱一次拟合功能、结果输出功能、图形显示功能。
正电子湮没 PLSA程序 Windows界面 材料电子密度 缺陷分析
李辉 王柱 王少阶
武汉大学物理科学与技术学院湖北省核固体物理物理重点实验室
国内会议
南宁
中文
139-140
2009-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）