粉末X射线衍射仪填样深度效应的研究

摘要：

本文对衍射几何分析、填样深度效应的实验研究和分析进行了介绍，指出通过对填样深度效应的理论分析和实验研究得出结论:对于吸收系数较大的金属及其合金样品，填样深度效应可以忽略，填样深度在0.2-0.5mm范围，足以满足无穷厚度要求。

关键词： 衍射几何分析 填样深度效应 吸收系数 末X射线衍射

作者: 程国峰 杨传铮 张健

作者单位: 中国科学院上海硅酸盐研究所,上海 200050 中国科学院上海微系统与信息技术研究所,上海 200050

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十届全国X射线衍射学术大会暨国际衍射数据中心(ICDD)研讨会

会议地点: 上海

会议语种:中文

页码: 32-33

在线出版日期: 2009-10-11（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）