利用掠入射X射线衍射表征高分子薄膜的结晶性

摘要：

掠入射X射线衍射(GIXRD)技术是一种新颖的测试技术，它是指以测试时X射线以很小角度入射到样品表面，几乎与样品平行。测试时入射角不变，探测器在大角区扫描测量衍射信号，常被用来表征薄膜的结晶性信息如晶型、取向、结晶度、微晶尺寸等。本文研究了共轭聚合物-均聚辛基芴(PFO)薄膜的微结构及其对相应光电性能的影响，还研究了P3HT及P3HT/PCBM共混薄膜的三维结构。

关键词： X射线衍射 高分子薄膜 共轭聚合物 微结构

作者: 张吉东 莫志深

作者单位: 高分子物理与化学国家重点实验室,中国科学院长春应用化学研究所,长春,130022

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十届全国X射线衍射学术大会暨国际衍射数据中心(ICDD)研讨会

会议地点: 上海

会议语种:中文

页码: 298-299

在线出版日期: 2009-10-11（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）