半导体照明光源可靠性的探讨
半导体照明光源一般是指用于照明的LED器件，广义而言则涵盖LED器件及其附加驱动或其它功能电路的模块、模组。在照明应用中LED模块、模组的可靠性至关重要，然而模块、模组中LED器件的工作寿命却是半导体照明光源可靠性的关键参数，也是关注的焦点。本文将对LED器件、模块、模组的工作寿命加以研讨，结合作者的实际工作，在试验模型的选择、失效机理、结温测试、失效判据、试验方法的选择等方面，将这些与半导体照明可靠性相关的技术内容做一简要的介绍。
半导体照明 结温测试 照明光源 光源可靠性
赵敏 张万生 徐立生
中国电子科技集团公司第十三研究所 国家半导体器件质量监督检验中心,石家庄 050051
国内会议
深圳
中文
37-40
2009-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）