磁控溅射方法制备碳膜稳定性的研究

内应力与附着性是影响C膜稳定性的重要因素。本文分析了磁控溅射方法制备C膜中内应力产生的主要原因,研究了应力大小与沉积时工艺条件--气压、靶距之间的关系,提出了控制C膜中内应力的方法,并通过添加Ti中间层增强了C膜的附着性。采用优化选取的工艺条件,添加Ti中间层后,可以制备出厚度为70nm、性能稳定的C膜。
磁控溅射 工艺条件 内应力 附着性 碳膜制备
刘丽琴 王占山 朱京涛 张众 王风丽 徐迭 张慧晶 白亮 徐垚
同济大学精密光学工程技术研究所,上海 200092
国内会议
2007年中国国际工业博览会科技论坛暨上海市激光学会2007年学术年会
上海
中文
162-166
2007-11-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)