Pb1-xMnxSe材料的光学性质研究

摘要：

Pb1-xMnxSe是一种重要的Ⅳ-Ⅵ族三元混晶窄禁带半导体，其禁带宽度属于中红外波段。对于Pb1-xMnxSe材料，其禁带宽度随Mn含量的增加而增加，这为将其作为禁带可调的红外探测和发射材料奠定了基础。对Pb1-xMnxSe(x=0.038)材料进行了光学性质的实验研究。实验中所用的Pb1-xMnxSe薄膜材料是采用(111)CdZnTe材料作为衬底，在分子束外延系统中生长而成的。组分x值为0.038，组分的确定是利用组分与禁带宽度的关系。薄膜厚度约为1.65gin，室温下的载流子浓度和迁移率分别为5×1017和400 cm2/v·s。XRD实验表明薄膜材料为NaCl结构，具有(111)方向的择优取向。

关键词： 分子束外延 光学性质 薄膜材料 禁带宽度

作者: 孙英会 张波 戴宁 斯剑霄 吴惠桢 张荣君

作者单位: 中科院上海技术物理研究所，红外物理国家重点实验室 浙江大学物理系 复旦大学光科学与工程系

会议类型: 国内会议

会议名称: 2007年中国国际工业博览会科技论坛暨上海市激光学会2007年学术年会

会议地点: 上海

会议语种:中文

页码: 406-408

在线出版日期: 2007-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）