GIS金属颗粒放电发展的谱图特征及Weibull参数
金属颗粒是导致GIS发生局部放电的因素之一，为能够有效的区分GIS内部绝缘子表面固定金属颗粒放电发展过程中的不同阶段，采用逐步升压的加压方法以及特高频的检测手段,按30分钟作为一个时间窗，将局放发展过程划分为11个时问窗，利用互相关系数、不对称系数、尖峰度、偏斜度对各个时间窗的N-Ф、Vmax-Ф、Vave-Ф谱图进行特征参量提取，并利用Weibull参数对各时间窗的N-v、N-Ф谱图进行研究。结果表明，随着局部放电的发展，N-Ф谱图互相关系数与N-V谱图、N-Ф谱图Weibull参数存在很强的规律性。
气体绝缘金属封闭开关设备 金属颗粒 局部放电发展 谱图特征 Weibull参数 特征参量提取
郝震 齐波 耿弼博
高电压与电磁兼容北京市重点实验室，北京 102206
国内会议
武汉
中文
6-12
2009-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）