Bil3-nylon 11纳米复合材料的XPS及ATR分析
(0) 本文用X射线光电子能谱法(XPS)分析了BiI3-nylon 11纳米复合材料和尼龙11聚合物膜，发现BiI3与nylon 11的复合破坏了原先聚酰胺相邻分子链间酰胺基团的氢键作用，取而代之的是发生在Bi(III)和羧基氧之间的相互作用，表明BiI3-nylon11纳米复合材料中BiI3与nylon 11(尼龙11)酸胺基团之间存在相互作用。由于Nls和Ols结合能位移较小，而样品制备和测试过程中又难以避免c和O的表面污染，这些都能影响XPS分析结果的准确性，为了分析BiI3对聚酰胺分子间氢键作用的影响，又采用衰减全反射红外光谱法(ATR)分析比较了纯nylon11和BiI3-nylon11纳米复合材料，且表明了纳米复合材料中BiI3与nylon11分子间的相互作用。
纳米复合材料 X射线光电子能谱法 聚合物膜 氢键 全反射红外光谱法
赵志娟 刘芬 赵良仲
中国科学院化学研究所，北京 100190
国内会议
贵州
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133-135
2009-08-17（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）