分断交、直流灯负载的银锡铟氧化物材料内氧化法和粉末冶金法的比较
本文比较了两种化学成分和颗粒尺寸分布相似，但制造工序不同的银氧化铟氧化锡材料。这两种制造工序分别是粉末冶金法简称PM和内氧化法简称IO。通过交、直流实验，比较了两种材料的电侵蚀和熔焊电阻特性。交流试验模拟了在汽车灯负载的测试条件下，接触电极在每次动作后进行切换。两种材料经致密化加工后挤压成带状，然后铸造成铆钉式触头的样本。这些材料都在模式开关下测试，也就是在实际的继电器结构中作为绕组和动触头来测试。每次实验的开始，闭合机械弹跳条件都有相同。监视每次动作过程中的熔焊和粘连现象。测试结果表明，两种材料在交流灯负载下有相同的性能，但在直流灯负载下的性能有显著不同。
电继电器 铆钉式触头 触头材料 触头熔焊 粉末冶金法
Zhuanke Chen Gerald J.Witter
Chugai USA LLC,Waukegan,IL 60087,USA
国内会议
温州
中文
32-37
2009-10-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）