提高射频器件的可靠性

摘要：

RF LDMOS射频器件目前被广泛的应用于GSM&CDMA的基站中，器件的射频性能和可靠性直接影响信号传输效果。本文在研究射频器件工作原理的基础上，对射频器件进行了可靠性试验测试，根据试验结果及现场的一些反馈信息，采用六西格玛方法进行了可靠性分析，找出了失效原因，并提出了相应的改进措施，以切实提高产品可靠性。

关键词： 无线通信 射频器件 失效分析 六西格玛

作者: 张罡

作者单位: 飞思卡尔半导体(中国)公司 天津 300385

会议类型: 国内会议

会议名称: 2009第三届电工产品可靠性与电接触国际会议

会议地点: 温州

会议语种:中文

页码: 438-442

在线出版日期: 2009-10-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）