样片厚度对X射线荧光光谱分析的影响
本文研究了采用X射线荧光光谱法测定对炭阳极中元素时,样品量(样片压片厚度)对测定结果的影响。试验表明:只有样片厚度达到3 mm时,测定结果稳定;样品量不能太少,这样不但不容易压片,而且测定结果不准确,样品达到一定厚度时,使用样品托不会对测定结果产生干扰。
炭阳极 X射线荧光光谱分析 样片厚度
温盼来
中国铝业河南分公司研究所,郑州 450041
国内会议
无锡
中文
179-181,183
2009-10-01(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)